Микроскоп сканирующий электронный SEM4000X CIQTEK
Цену уточняйте
Минимальная сумма заказа на сайте — 100 000 ₸
- Под заказ
- Код: MBL3300
Отправка с 15 марта 2026Микроскоп сканирующий электронный SEM4000X CIQTEKПод заказ
Цену уточняйте
+7 (727) 346-98-98
Отдел продаж / Sales department| Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000X FESEM | ||
| Электронная оптика | Разрешение | 0,9 нм при 30 кВ, SE 1,0 нм при 15 кВ, SE 1,8 нм при 1 кВ, SE 1,5 нм при 1 кВ (ультразвуковое замедление пучка) 0,8 нм при 15 кВ (ультразвуковое замедление пучка) |
| Напряжение ускорения | 0,2 кВ ~ 30 кВ | |
| Увеличение (Polaroid) | 1 ~ 1 000 000 x | |
| Электронная пушка | Электронная пушка Шоттки с полевой эмиссией | |
| Камера для образцов | Камера | Двойная камера (оптическая навигация + мониторинг камеры) |
| Диапазон стадий |
X: 110 мм Y: 110 мм Z: 65 мм T: -10°~ +70° R: 360° |
|
| Детекторы и расширения для сканирующего электронного микроскопа | Стандарт |
Внутрилинзовый электронный детектор: UD-BSE/UD-SE Детектор Эверхарта-Торнли: ЛД |
| Необязательный |
Детектор обратнорассеянных электронов (BSED) Выдвижной детектор сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM) Детектор низкого вакуума (ДНВ) Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX) Дифракционная картина обратного рассеяния электронов (EBSD) Шлюз для обмена образцами (4 дюйма / 8 дюймов) Панель управления с трекболом и поворотными регуляторами Технология сверхбыстрого замедления луча |
|
| Пользовательский интерфейс | Язык | Английский |
| ОС | Windows | |
| Навигация | Оптическая навигация, быстрая навигация жестами, трекбол (опционально) | |
| Автоматические функции | Автоматическая регулировка яркости и контрастности, автофокусировка, автоматический стигматизатор. | |
Характеристики
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | A. Krüss Optronic |
| Страна производитель | Германия |
| Состояние | Новое |
Информация для заказа
- Цена: Цену уточняйте