| Технические характеристики СЭМ-микроскопа CIQTEK SEM3300 |
| Электронная оптика |
Разрешение |
2,5 нм при 15 кВ, SE
4 нм при 3 кВ, SE
5 нм при 1 кВ, SE |
| Ускоряющее напряжение |
0,1 кВ ~ 30 кВ |
| Увеличение (поляроид) |
1 х ~ 300 000 х |
| Камера для образцов |
Камера |
Оптическая навигация |
| Мониторинг палаты |
| Тип сцены |
5-осевой вакуумный совместимый моторизованный |
| Диапазон XY |
125 мм |
| Диапазон Z |
50 мм |
| Диапазон Т |
- 10° ~ 90° |
| Диапазон R |
360° |
| Детекторы СЭМ |
Стандарт |
Внутрилинзовый электронный детектор (Inlens)
Детектор Эверхарта-Торнли (ETD) |
| Необязательный |
Выдвижной детектор обратно-рассеянных электронов (BSED)
Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX)
Картина дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) |
| Необязательный |
Шлюз для обмена образцами |
| Панель управления с трекболом и ручкой |
| Пользовательский интерфейс |
Операционная система |
Окна |
| Навигация |
Оптическая навигация, быстрая навигация жестами, трекбол (опционально) |
| Автоматические функции |
Автоматическая яркость и контрастность, автоматическая фокусировка, автоматический стигматор
|
Жіберу 17 мая 2026