Электронные микроскопы Hitachi
Электро́нный микроско́п (ЭМ) — прибор, позволяющий получать изображение объектов с максимальным увеличением до 106 раз, благодаря использованию, в отличие от оптического микроскопа, вместо светового потока, пучка электронов с энергиями 200 эВ — 400 кэВ и более.
-
Электронный микроскоп Hitachi TM4000Plus
Цену уточняйтеПод заказ+7 (727) 346-98-98Отдел продаж / Sales department
-
Просвечивающий электронный микроскоп FE-TEM HF5000 Hitachi HT
Цену уточняйтеПод заказ+7 (727) 346-98-98Отдел продаж / Sales department
-
Просвечивающий электронный микроскоп HT7800
Цену уточняйтеПод заказ+7 (727) 346-98-98Отдел продаж / Sales department
-
Просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией HF-3300
Цену уточняйтеПод заказ+7 (727) 346-98-98Отдел продаж / Sales department
-
Электронный Микроскоп Hitachi Regulus SU8200
Цену уточняйтеПод заказ+7 (727) 346-98-98Отдел продаж / Sales department
-
Электронный Микроскоп SU5000
Цену уточняйтеПод заказ+7 (727) 346-98-98Отдел продаж / Sales department
-
Электронный микроскоп SU7000
Цену уточняйтеПод заказ+7 (727) 346-98-98Отдел продаж / Sales department
-
Электронный Микроскоп SU9000
Цену уточняйтеПод заказ+7 (727) 346-98-98Отдел продаж / Sales department
-
Электронный микроскоп FlexSEM 1000
Цену уточняйтеПод заказ+7 (727) 346-98-98Отдел продаж / Sales department
-
Электронные микроскопы Hitachi SU3800/3900
Цену уточняйтеПод заказ+7 (727) 346-98-98Отдел продаж / Sales department
-
Сканирующий-просвечивающий электронный микроскоп HD2700
Цену уточняйтеПод заказ+7 (727) 346-98-98Отдел продаж / Sales department
Какую информацию может дать электронный микроскоп:
Информация о морфологии поверхности на малых масштабах (SEM) до долей нанометра
Изучение внутренней структуры тонких образцов (TEM) на масштабах до межатомных расстояний. Изучение элементного состава поверхности исследуемого образца (EDX, WDX, µ-XRF)
Изучение кристаллической структуры образца с высокой локальностью (EBSD, SAED)
Получение информации о локальных физических свойствах образца (Модуль упругости, проводимость, люминесценция)
Наш компания предлагает Вашему вниманию электронные микроскопы от производителя Hitachi High-Tech (подразделение Hitachi Ltd), который создаёт уникальные технологии и инновационные производства, высококлассные аналитические и измерительные приборы.
Виды электронных микроскопов:
Сканирующий электронный микроскоп(SEM)
Предназначен для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. В процессе съёмки по поверхности образца перемещается тонкий электронный луч, вызывающий вторичные эффекты, улавливаемые детекторами.
Просвечивающий электронный микроскоп(TEM).
Прибор предназначен для изучения внутреннего строения исследуемого тонкого объекта.
Изображение в данном случае получается с помощью проходящего через образец пучка электронов. Электронный пучок просвечивает образец, неоднородное рассеяние электронов разными участками образца дает двумерную картину распределения плотности прошедшего электронного потока.
Обязательным условием для осуществления данного метода является использование специальной пробоподготовки.
Компания ALEMTRADE подготовит для вас готовое решение, поставит оборудование, введет его в эксплуатацию, осуществит гарантийную и постгарантийную техническую и методическую поддержку, обеспечит бесперебойную поставку расходных материалов.
Информация о морфологии поверхности на малых масштабах (SEM) до долей нанометра
Изучение внутренней структуры тонких образцов (TEM) на масштабах до межатомных расстояний. Изучение элементного состава поверхности исследуемого образца (EDX, WDX, µ-XRF)
Изучение кристаллической структуры образца с высокой локальностью (EBSD, SAED)
Получение информации о локальных физических свойствах образца (Модуль упругости, проводимость, люминесценция)
Наш компания предлагает Вашему вниманию электронные микроскопы от производителя Hitachi High-Tech (подразделение Hitachi Ltd), который создаёт уникальные технологии и инновационные производства, высококлассные аналитические и измерительные приборы.
Виды электронных микроскопов:
Сканирующий электронный микроскоп(SEM)
Предназначен для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. В процессе съёмки по поверхности образца перемещается тонкий электронный луч, вызывающий вторичные эффекты, улавливаемые детекторами.
Просвечивающий электронный микроскоп(TEM).
Прибор предназначен для изучения внутреннего строения исследуемого тонкого объекта.
Изображение в данном случае получается с помощью проходящего через образец пучка электронов. Электронный пучок просвечивает образец, неоднородное рассеяние электронов разными участками образца дает двумерную картину распределения плотности прошедшего электронного потока.
Обязательным условием для осуществления данного метода является использование специальной пробоподготовки.
Компания ALEMTRADE подготовит для вас готовое решение, поставит оборудование, введет его в эксплуатацию, осуществит гарантийную и постгарантийную техническую и методическую поддержку, обеспечит бесперебойную поставку расходных материалов.