Спектрометр Rigaku ZSX Primus IV

Элементный анализ твердых тел, жидкостей, порошков, сплавов и тонких пленок

В качестве спектрометра с последовательной дисперсией по длине волны (WDXRF) спектрометр Rigaku ZSX Primus IV обеспечивает быстрое количественное определение основных и второстепенных атомных элементов, от бериллия (Be) до урана (U), в широком спектре образцов — с минимальными стандартами.

Описание ZSX Primus IV

Новое программное обеспечение XRF для экспертной системы ZSX Guidance

ZSX Guidance поможет вам во всех аспектах измерения и анализа данных XRF. Точный анализ могут выполнять только специалисты? Нет, это в прошлом. Программное обеспечение ZSX Guidance со встроенным опытом работы с XRF и ноу-хау квалифицированных экспертов позаботится о сложных настройках. Операторы просто вводят основную информацию об образцах, компонентах анализа и стандартном составе. Измеряемые линии с наименьшим перекрытием, оптимальными фонами и параметрами коррекции (в том числе перекрытиями линий) автоматически задаются с помощью качественных спектров.

Исключительная производительность светоэлементного XRF с инвертированной оптикой для превосходной надежности

ZSX Primus IV имеет инновационную конфигурацию оптики. Больше не нужно беспокоиться о загрязнении пучка или простоях из-за технического обслуживания пробоотборной камеры. Геометрия с оптикой над поверхностью избавляет от необходимости в очистке и увеличивает время безотказной работы. Обеспечивая превосходную производительность и гибкость для анализа самых сложных образцов, спектрометр ZSX Primus IV WDXRF оснащен трубкой размером 30 микрон, самой тонкой трубкой с торцевым окном в отрасли, доступной в отрасли, для исключительного обнаружения легких элементов (low-Z).

Картирование и многоточечный РФ-анализ

В сочетании с самым передовым пакетом картирования для обнаружения однородности и включений, ZSX Primus IV позволяет легко проводить детальные рентгенофлуоресцентные спектрометрические исследования образцов, которые позволяют получить аналитическую информацию, которую нелегко получить с помощью других аналитических методологий. Доступный многоточечный анализ также помогает устранить ошибки отбора проб в неоднородных материалах.

Основные параметры SQX с программным обеспечением EZ-scan

EZ-scan позволяет пользователям выполнять элементный анализ неизвестных образцов с помощью РФА без какой-либо предварительной настройки. Эта функция, экономящая время, требует всего нескольких щелчков мыши и ввода образца имени. В сочетании с программным обеспечением для определения фундаментальных параметров SQX он обеспечивает максимально точные и быстрые результаты РФА. SQX способен автоматически корректировать все матричные эффекты, включая перекрытия линий. SQX также может корректировать эффект вторичного возбуждения фотоэлектронами (легкими и сверхлегкими элементами), различными атмосферами, примесями и различными размерами образцов. Повышенная точность достигается за счет использования соответствующей библиотеки и программ идеального анализа сканирования.